烴露點儀采用冷鏡法原理，基于露點物理定義進行測量，使用高度惰性、先進的晶體陶瓷作為基體，利用紅外光源及光譜儀判斷冷凝層的形成，并對其進行定性，從根本上解決了傳統的冷鏡露點儀不能判斷產生的冷凝物性質的不足，并獲得專利。

　　許多行業諸如石化、電力、電子、航空航天、冶金、紡織等對濕度測量的要求越來越高，因而，烴露點儀濕度測量已逐漸成為一個新興的技術領域，在86年我國正式成立了濕度與水分專業委員會，并開展了多次學術交流會，濕度的一些計量檢定規程也逐步建立。

　　根據有關規程，濕度被定義為氣體中的水蒸氣含量，常用單位有：克/升，PPM，mmHg，露點及相對濕度等。習慣上以露點-20℃為界把所測氣體分為高濕度氣體與低濕度氣體(即微量水)，這里重點介紹低濕度氣體的測量。

　　在露點測量中，鏡面污染是一個突出的問題，其影響主要表現在兩個方面;一是拉烏爾效應，拉烏爾效應是由水溶性物質造成的。如果被測氣體中攜帶這種物質(一般是可溶性鹽類)則鏡面提前結露，使測量結果產生正偏差。

　　二是改變鏡面本底放射水平。若污染物是不溶于水的微粒，如灰塵等，則會增加本底的散射水平，從而使光電露點儀發生零點漂移。此外，一些沸點比水低的容易冷凝的物質(例如有機物)的蒸氣，不言而喻將對露點的測量產生干擾。

　　因此，無論任何一種類型的烴露點儀都應防止污染鏡面。一般說來，工業流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的。但即使是在純氣的測量中鏡面的污染亦會隨時間增加而積累。